e+h导波雷达物位测量仪的优势有哪些
可靠测量：不受介质表面和罐体内部装置或挡板的影响
底部回波算法(EoP)使得测量更加安全
在加料过程中也能安全测量
Levelflex使用高频雷达脉冲工作，脉冲沿探头发射和传播。脉冲触及介质表面，介电常数值(相对介电常数)的变化导致部分发射脉冲被反射。仪表测量和分析脉冲发送和接收间的行程时间，直接测量过程连接和介质表面间的距离。
在E+H导波雷达物位测量中，Levelflex自顶向下安装，满足所有行业应用要求。导波雷达调试简单、*操作方式，节省时间和成本。应用广泛：可以在简单储罐中，在腐蚀性介质中或严重粉尘应用中测量。点击以下按钮查看更多Levelflex导波雷达物位仪。
导波雷达物位仪特别适用于液体和固体的物位测量。反射波安全传输使得介质表面条件影响甚微。扰动液体表面或泡沫形成，以及不同弯曲表面或熔炉出口不会影响测量。导波雷达是界面测量的优选。
e+h导波雷达物位计测量的参数有哪些
菜单是引导现场操作，四行文本显示
现场显示包络线进行诊断
附送ToF Tool操作软件，可进行操作与诊断
可进行远程操作和显示
采用同轴探头进行测量，可以*不受罐内介质和安装
短管上的安装位置等因素的影响
Levelflex M 被设计用于对粉末或小颗粒固体及液体进行连续
物位测量。测量不受介质密度、温度变化及气室内粉尘堆积等
因素影响。过程连接可以选用?"以上螺纹和DN40/1?"以上法
兰。
e+h缆式探头主要用于测量固体料位，测量范围可达
35m/114.83ft
杆式探头主要用于测量液体料位
可选以下标准的系统接口：
HART（标准），4...20mA
PROFIBUS-PA
基金会现场总线
同轴探头用于测量液体料位
e+h导波雷达物位测量仪的优势有哪些
变化中的介质进行可靠测量
