霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学性预掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学性的具。
介绍
霍尔效应测试仪介绍
该仪器为性能稳定、能强大、性价比的霍尔效应仪,在内校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。
仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要性参数，如载子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。
除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。
可说是套能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信能受到各界用户之肯定与爱用。
广泛应用于半导体厂商。
1、度电源
输出电之度可达2nA，如此微小之电可用于半缘材料之量测，即电阻值材料之量测。
2、度电表
使用度电表，电压量测能力可达nV等，上限可达300V，适合用于量测低电阻值材料。
3、外型简、操作简单
外型轻巧、美观大方，磁铁组之性更换也很灵活容易，之液氮容器，可确保低温量测之稳定性*。
4、I-V曲线
采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。
5、单纯好用之操作画面
使用者只需在同张操作画面中，就可以成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。
6、自行开发之弹簧样品夹具，殊之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提量测之可靠度。
