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四探针探头的选择

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2018/3/12 8:46:36

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择

 

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择

四探针探头是四探针法测试电阻率/方阻测试系统的关键部件。探头通过四根探针,以适当的压力和点阵形式与样品接触,连接四探针仪器后,实现四探针法电流的加载,电压的取样。应根据样品的物理特性,如是固体还是粉末,是一般硅片、金属等硬质材料还是柔性薄膜、涂层、ITO膜类材料,是单一导电层材料还是复合导电层,样品的尺寸大小等条件来选择探头的压力和点阵形式,选择型号。 

表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》

序号

型号

名称

特征图片

规格参数

选用场合

1

 

ST2253-F01

钨针直线四探针探头

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/201342821957196.jpg  

  直线四探针针距:1+1+1,探针:碳化钨针

硅片、金属等硬材料电阻率/方阻测试

2

 

ST2558A-F01

光伏电池片方阻直线四探针探头

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428211518553.jpg

直线四探针针距:2+2+2,探针:长钢尖针

硅材料光伏电池片方阻测试

3

 

ST2558A-F02

薄膜方阻刀型测试台

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428211929781.jpg

刀型测试台刀距100,刀宽100

柔性薄膜、金属涂层膜方阻测试

4

 

ST2558B-F01

薄膜方阻直线四探针探头

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428212019667.jpg

直线四探针针距:2+2+2,探针:镀金磷铜半球形针尖

柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试

 

5

 

ST2558B-F02

箔上涂层电阻率方阻四端子探头

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428212128748.jpg

针距8,直径4探针:圆柱平端面

 

箔上涂层电阻率/方阻测试

 

6

 

ST2558B-F03

薄膜方阻直线四探针探头

 http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428212328313.jpg

直线四探针针距1+1+1,探针:镀金磷铜半球形针尖

柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试

 

7

 

ST2571A-F01

薄膜方阻矩形四探针探头

 

矩形四探针针距1X1探针:碳化钨针

硅片电阻率和方阻仪

 

8

 

ST2571A-F02

薄膜方阻矩形四探针探头

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/201342821250714.jpg

矩形四探针针距1X1探针:镀金磷铜半球形针尖

柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试

 

9

 

ST2571A-F03

薄膜方阻矩形四探针探头

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/201342821269346.jpg

矩形四探针针距2X2探针:镀金磷铜半球形针尖

柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试

 

  

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