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| | AT810 LCR 数字电桥 | ● | 测试参数:L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) | ● | 测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz | ● | 基本准确度:0.1% | ● | 测试电平:0.1V, 0.3V, 1.0V | ● | 测试速度:2次/秒,5次/秒,15次/秒 |
| 第5版(2011) |
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| | | AT2816A 精密LCR 数字电桥 | ● | 测试主副参数:Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg | ● | 测试监视参数:Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% | ● | 测试频率:50Hz~200kHz (连续频点 0.001Hz分辨率) | ● | 基本准确度:0.05% | ● | 测试电平:0.01V~2.00V 以10mV步进 |
| 第2版(2011款 连续点频) |
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| | AT2816B 精密LCR 数字电桥 | ● | 测试主副参数:Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg | ● | 测试监视参数:Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% | ● | 测试频率:50Hz~200kHz (37点) | ● | 频点:50Hz,60Hz,80Hz,100Hz,120Hz,150Hz,200Hz,250Hz,300Hz,400Hz,500Hz,600Hz,800Hz,1kHz,1.2kHz,1.5kHz,2kHz,2.5kHz,3kHz,4kHz,5kHz,6kHz,8kHz,10kHz,12kHz,15kHz,20kHz,25kHz,30kHz,40kHz,50kHz,60kHz,80kHz,100kHz,120kHz,150kHz,200kHz | ● | 基本准确度:0.1% |
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| | | AT2817 精密LCR 数字电桥 | ● | 测试参数:L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) | ● | 测试频率:50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz, | ● | 10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz | ● | 基本准确度:0.05% | ● | 测试电平:0.1V, 0.3V, 1.0V |
| 新品 2011 |
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| | AT2817A 精密LCR 数字电桥 | ● | 测试参数:L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) | ● | 测试频率:50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,200Hz,400Hz,500Hz,1kHz, | ● | 2kHz,4kHz,5kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz | ● | 基本准确度:0.05% | ● | 测试电平:0.01V~2.00V 以10mV步进 |
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| | | AT2818 精密LCR 数字电桥 | ● | 测试主副参数:Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg | ● | 测试监视参数:Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% | ● | 测试频率:10Hz~300kHz (连续频率,分辨率 0.001Hz) | ● | 基本准确度:0.05% | ● | 测试电平:0.01V~2.00V 以10mV步进 |
| 第2版 (2011款 连续点频) |
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| AT826 手持LCR数字电桥 | ● | 测试参数:L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad)ESR | ● | 测试频率:100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz | ● | 基本准确度:0.2% | ● | 测试电平:0.5Vrms | ● | 测试速度:4次/秒,1.5次/秒 |
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| AT825 手持LCR 数字电桥 | ● | 测试参数:L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad)ESR## | ● | 测试频率:100Hz,120Hz,1kHz,10kHz | ● | 基本准确度:0.2% | ● | 测试电平:1Vrms | ● | 测试速度:4次/秒,1.5次/秒 |
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