全自动冲击缺口测量仪与冲击投影仪的使用对比

冲击试验对于冲击试样缺口要求严格，缺口的微小变化，都会引起试验结果出现误差，为保证加工出的冲击试样缺口合格，缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段。目前冲击缺口测量的有两种方式，种是传统的投影仪比对；第二种，是全自动冲击缺口测量仪，准确测量缺口尺寸。

概述

随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行夏比V型U型缺口冲击试验方法，日前国内很多行业如（航空航天、船舶、锅炉压力容器、冶金和机械）等行业已普遍s使用夏比冲击试验。根据目前国内广大用户的实际需求和国标GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤试验方法》ASTM E23中要求冲击试样缺口的要求而开发、开发的一种于检查夏比V型U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器，是航空航天、船舶、锅炉压力容器、冶金和机械等部门理化实验室的*设备。满足所有种类冲击试样缺口的的检测。

对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（GB/T229-2007试样缺口深2mm±0.075、45°角±2°且试样缺口要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23试样缺口深2mm±0.025、45°角±1°且试样缺口要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的偏差，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。用光学测量检查是切实可行并能保证检查质量的方法。TOP-IG是我公司根据GB/229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》、ASTM E23中冲击试样缺口的要求与广大用户的实际需求而设计、开发的一种于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学测量仪器。

原理

种：传统的冲击缺口投影仪，主要通过将被测试样缺口投影到带有模板刻度的屏上，然后调整被测试样高度、左右等与带有刻度的模板进行对比，判定冲击缺口尺寸是否合格。

第二种，全自动冲击缺口测量仪，主要通过的光学系统，将被测试样缺口，采集到电脑显示器上，通过SMTMeasSystem_IG测量系统，通过特用的像素解析技术，以及的光学系统，将被测试样缺口清晰轮廓显示到显示器上，再通过*的技术自动捕捉轮廓，自动测量缺口尺寸。试样摆放需刻意摆放试样，只要将缺口放置视频区范围内就可以。缺口测量只需两部完成，摆放试样——测量缺口。一切测量、捕捉都是系统自动完成，1个人测量结果和100个测量结果一样。实现无人为因素影像。