通常被测镀层材料有铜、铝、铬等,它们的相对磁导率分别为0.99992、1.000008和1.000045。显然,都取为1是相当的。因此,它们之间的差异不会引进测量误差。另外,只要合理选择激励频率f(仪器设计时选定),电导率叮的影响是可以得到控制的。
由于被测件基底和被测表面粗糙度的变化,使测量结果相差悬殊,因而不能得到真实的镀层厚度值。我们作了几组试验,分别示于图1、图2
试验结果表明,当被测基底和被测表面粗糙度Rz值在6.3拜m(包括6.3户m)以下时,对被测结果的影响可以忽略不计;当粗糙度R。值在6.3尸m以上时,对被测结果有明显的影响。对于刀痕较宽的被测表面,其测量结果受测点位置的影响很大。对这样的被测件,取4一5个测点的平均值作为测量结果,可以相对地减小其影响。表面粗糙度不同,直接改变了磁路间隙的大小。粗糙度数值越大,气隙越大,增大了线圈到基底的距离,所以测量值增大。反之,测量值减小,更接近镀层的真实厚度
校对仪器时采用的基底厚度多是较大的,而被测件的基底厚度一般变化较大。当被测件基底厚度大寸;IOmm时,其厚度变化对测量结果的影响可以忽略不计。当基底厚度小J二10mm时.其影响就不能忽略,特别是小于3mm时,其影响已可超出测量值的5%。因此,在测量较薄的工件时,必须用和被测基底厚度相当的基底校对仪器。这是因为,当工件较薄时,涡流效应大大降低,使测量结果的数值明显加大。为了解决上迷问题,可以将薄的被测件放在较厚的基底上测量。实践表明,这样作就可以避免涡流效应的影响
涡流测厚仪使用的校对样板和校对时用的基底多为平面型,被测件表面往往不是平面,而是外圆面或内孔面。这样的弯曲表面对测量结果有很大的影响。这主要是由于改变了测头(线圈)和被测表面空气间隙。为此,使测头沿轴向母线测量,可以得到较满意的测量结果。但是,当曲率半径较小时,为提高测量结果的准确度,应当根据所用测头的具体情况,做必要的试验才成。在仲裁检测时,尤其应当如此。如我们为煤碳部验收德国进口的液压支架时,预先按被测件曲率半径尺寸作了校对件,使验收工作收到了满意的结果。
试验表明,测量部位不同,测量结果的数值就不同,如靠近边缘处和棱角处,由于磁路截面减小,涡流效应降低,测量结果数值增大。所以,应当避免在靠近边缘和棱角处测量。
通常被测镀层材料有铜、铝、铬等,它们的相对磁导率分别为0.99992、1.000008和1.000045。显然,都取为1是相当的。因此,它们之间的差异不会引进测量误差。另外,只要合理选择激励频率f(仪器设计时选定),电导率叮的影响是可以得到控制的。
由于被测件基底和被测表面粗糙度的变化,使测量结果相差悬殊,因而不能得到真实的镀层厚度值。我们作了几组试验,分别示于图1、图2
试验结果表明,当被测基底和被测表面粗糙度Rz值在6.3拜m(包括6.3户m)以下时,对被测结果的影响可以忽略不计;当粗糙度R。值在6.3尸m以上时,对被测结果有明显的影响。对于刀痕较宽的被测表面,其测量结果受测点位置的影响很大。对这样的被测件,取4一5个测点的平均值作为测量结果,可以相对地减小其影响。表面粗糙度不同,直接改变了磁路间隙的大小。粗糙度数值越大,气隙越大,增大了线圈到基底的距离,所以测量值增大。反之,测量值减小,更接近镀层的真实厚度
校对仪器时采用的基底厚度多是较大的,而被测件的基底厚度一般变化较大。当被测件基底厚度大寸;IOmm时,其厚度变化对测量结果的影响可以忽略不计。当基底厚度小J二10mm时.其影响就不能忽略,特别是小于3mm时,其影响已可超出测量值的5%。因此,在测量较薄的工件时,必须用和被测基底厚度相当的基底校对仪器。这是因为,当工件较薄时,涡流效应大大降低,使测量结果的数值明显加大。为了解决上迷问题,可以将薄的被测件放在较厚的基底上测量。实践表明,这样作就可以避免涡流效应的影响
涡流测厚仪使用的校对样板和校对时用的基底多为平面型,被测件表面往往不是平面,而是外圆面或内孔面。这样的弯曲表面对测量结果有很大的影响。这主要是由于改变了测头(线圈)和被测表面空气间隙。为此,使测头沿轴向母线测量,可以得到较满意的测量结果。但是,当曲率半径较小时,为提高测量结果的准确度,应当根据所用测头的具体情况,做必要的试验才成。在仲裁检测时,尤其应当如此。如我们为煤碳部验收德国进口的液压支架时,预先按被测件曲率半径尺寸作了校对件,使验收工作收到了满意的结果。
试验表明,测量部位不同,测量结果的数值就不同,如靠近边缘处和棱角处,由于磁路截面减小,涡流效应降低,测量结果数值增大。所以,应当避免在靠近边缘和棱角处测量。
色溫色度計 TES-136 |泰仕電子工業股份有限公司说明书
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