gigahertz-optik解说现代通用二极管阵列光谱辐射计的要求
随着二极管阵列的发展，光谱辐射计必须在功能的定义和元件的选择中加以考虑，用作光学辐射的光度计的量。因此，仅具有可具有大动态范围的二极管阵列检测器才能执行不同性能的灯的测量。
对于的测量，光谱辐射计的整个动态范围必须*线性化，并提供，可追溯的校准。如果仅电子控制的动态范围（积分时间）不足，则必须提供附加的阻尼滤波器（需要滤波器轮）。就测量系统的长期稳定性而言，该滤光轮必须具有机械强度。在诸如短时间操作中的LED分类的时间关键应用中，电子控制的动态范围必须非常大，以至于在测量期间不需要尽可能耗时的滤波器变化。
对于测量，通过暗测量对CCD二极管阵列检测器进行自动暗调整是现有技术。用于分类（装箱）前端和后端LED的光谱辐射计还必须能够同步测量，以便对测试LED进行短期通电。D. 对于测量，通过暗测量对CCD二极管阵列检测器进行自动暗调整是现有技术。用于分类（装箱）前端和后端LED的光谱辐射计还必须能够同步测量，以便对测试LED进行短期通电。D. 对于测量，通过暗测量对CCD二极管阵列检测器进行自动暗调整是现有技术。
光谱仪（分箱）必须允许测量的同步到测试LED的短时间通电的排序使用前端和后端LED也。D. 小时。触发输入和输出是必要的。对于闪光测量，d。 小时。为了测量闪光，需要电子快门，其能够在触发测量之前对所有像素进行瞬时（ns）归零。光通量，发光强度和发光强度分布的测量需要诸如积分球，光强度光学器件和测角仪等附件。有了这个，Spektralradiometer必须能够重复连接。将光谱辐射计直接安装到附件上避免了柔性光纤连接的影响。对于颜色测量，除其他外，根据CIE 13.3和CIE 15 实施的数学以及TM-30-15是必要的。对于LED或半导体行业的应用，它还必须符合CIE标准 S025和LM-79-08。
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它的一个*的特点是创新BITEC检测器，其是基于背面减薄CCD二极管阵列和V（拉姆达）上的光谱仪单元的组合过滤Si光电二极管提供在的直线性，稳定性和测量速度方面具有优势。两种传感器可以*独立或者只单独使用，但它也是传感器的相互校正其共同利益与它带来
