高频介电常数介质损耗测试仪规格与技术参数
一 华测高频介电常数介质损耗测试仪产品简介
高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。
二 华测高频介电常数介质损耗测试仪规格
型号 | HCJDCS-B | HCJDCS-A | HCJDCS-C |
工作频率范围 | 50kHz～50MHz | 1kHz～70MHz | 50kHz～160MHz |
Q值测量范围 | 1～1000 | 5～599 | 1～1000 |
可调电容范围 | 40～500 pF | 40～500 pF | 13～230 pF |
电容测量误差 | ±1%±1pF | ±1%±1pF | ±1%±0.5pF |
Q表残余电感值 | 约20nH | 约20nH | 约8nH |
三 华测高频介电常数介质损耗测试仪工作特性:
1．Q值测量：
a．Q值测量范围：2～1023；
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
c．标称误差
频率范围 | 25kHz～10MHz |
固有误差 | ≤5％±满度值的2% |
工作误差 | ≤7％±满度值的2% |
频率范围 | 10MHz～60MHz |
固有误差 | ≤6％±满度值的2% |
工作误差 | ≤8％±满度值的2% |
2．电感测量范围：14.5nH～8.14H
电容测量:
直接测量范围 | 1～460p |
主电容调节范围 | 40～500pF |
准确度 | 150pF以下±1.5pF； |
注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
华测高频介电常数介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围
频率范围 | 10kHz～60MHz |
CH1 | 10～99.9999kHz |
CH2 | 100～999.999kHz |
CH3 | 1～9.99999MHz |
CH4 | 10～60MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
3．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000
4．正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
5．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。
华测高频介电常数介质损耗测试仪仪器特点：
接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。
多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
抗震 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。
采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。
CVT测量 *自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），
两个终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。
安*全措施
（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。
（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。
（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。
（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，*全报警。
（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。
VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。
打印仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。
RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。
