关于PID（电位诱发衰减）现象-化工仪器网-手机版

随着公共事业规模的高压光伏系统的应用，PID（电位诱发衰减）现象已经受到了极大的关注。受PID影响的太阳能电池会损失80%或更多的功率。因此，为确保运行期间的稳定性和组件性能，在问题的初期就对期进行分析、提出解决方法是极为重要的。绝缘电阻测试仪就是为评估PID现象而研制，具有极性自动切换功能，输出电压高达2500V，采用浮地模式，特别适用于高灵敏度要求的绝缘测试。

PID绝缘测试仪是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估，以绝缘电阻测试仪为基础设计而成的测试仪。
附有极性切换功能，输出电压可达2000V,同时装载了nA级分辨率的电流表，因此不仅可以进行PID评估，还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及RS232C接口，因此也可以灵活对应自动化系统。

什么是PID现象？
PID现象是指太阳能电池与边框长期被施以高电压，电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高，越是在高温、高湿的环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十V，一旦直接连接的片数增加，串内的电位差将变得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作为交流电源与系统相连,使接地形态发生变化。输入端采用浮接（一侧电极不能接地线）的无变压器方式近年有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。现在可明确的是，晶体硅太阳能电池模块中，相对于边框（接地线）负极电位高的电池容易发生PID现象。目前，日本国内以大600V、欧洲以大1000V的系统电压运行太阳能电池模块，但是目前出现了提高大系统电压以削减企业用大规模太阳能发电系统的串数、PCS总数，提高发电效率的趋势。
目前认为是由于超白钢化玻璃内的钠离子向电池侧迁移而引起劣化。（薄膜太阳能电池模块也被确认出现PID现象，但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。）现在，各种研究机构正在通过研究、试验查找PID现象的原因。