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MX4R 微分干涉显微镜 爆破粒子检测显微镜

深圳市众寻光学仪器有限公司

2019/7/11 11:06:43

MX4R金相显微镜采用灵活的系统组合、的成像性能、稳定的系统结构,MX4R系列专业应用于工业检测及金相分析领域,各操作机构根据人机工程学设计,大限度减轻使用疲劳。模块化的部件设计,可对系统功能进行自由组合。集成了明场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用,进行功能选择。全新采用半复消技术,集明场、斜照明、偏光等多种观察方式,任何观察模式下都能呈现清晰锐利的显微图像,可根据实际应用,进行功能选择,是工业检测的有效工具。

 




性能特点

1)MX4R系列为全新型FPD检查显微镜,专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查

2)MX4R系列机型采用4寸、6寸平台设计,可适用于相应尺寸的晶圆或小尺寸样品的金相检查   

3)MX4R系列,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美 

4)MX4R系列机型采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术,采用长寿命LED光源

5)多种高度功能化的附件,能满足各种检验需要,可用于明场、简易偏光、微分干涉观察


■ 采用无限远色差校正光学系统
■ 长工作距、明暗场两用平场消色差物镜,成像清晰、像面平坦
■ 配备反射式柯拉照明系统,为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明
■ 正像三通观察筒,30°倾斜,极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性
■ 配备了4寸带离合器的机械平台230X215mm,行程105mmX105mm,可快速移动
■ 良好的人机工程学设计,高刚性镜筒,“Y”型底座,调焦机构采用前置式操作控制
■ 光源采用宽电压数字调光技术,具有光强调定与复位功能
■ 可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件,拓展应用领域









★ 可选配6英寸三层机械移动平台,平台面积445×240mm,行程158×158mm;玻璃载物台板,透反两用平台;
★ 可选配标准微分干涉(DIC)装置、OLYMPUS微分干涉(DIC)装置

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