Agilent 8900 ICP-MS/MS 分析10nm金纳米颗粒

根据欧盟委员会 (EC) 建议 (2011/696/EU)，出于监管的目的，纳米材 料是“含有呈未结合态、聚集体或聚结物颗粒的天然材料、人为偶发 材料或制造材料，其中 50% 以上颗粒的粒径分布数量中，三维尺寸 至少有一维介于 1 nm-100 nm 之间”[1]。具有纳米级外形尺寸或内部 结构的材料表现出材料宏观尺度形态中不存在的*性质。

极小颗粒 (< 20 nm) 的检测对于 spICP-MS 仍 然具有挑战性，因为由此类颗粒产生的信号较低。 spICP-MS 中测得的信号基于每个颗粒中存在的离子 数量，这一数量与颗粒质量成正比。但由于颗粒质 量随直径的三次方而减小，因此粒径减半（例如， 从 60 nm 减小至 30 nm）将导致质量与理论信号减 少为原始值的 1/8。同样地，15 nm 颗粒的信号仅 为 60 nm 颗粒的 1/64。因此，具有*灵敏度和极 低背景的仪器对于支持较小粒径的检测和分析至关 重要。 Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 具有 低背景 (< 0.2 cps) 和高达 Gcps/ppm 的灵敏度，非 常适合小颗粒检测。此外，8900 系统能够以极短的 (0.1 ms) 驻留时间运行，支持非常快速的时间分辨 分析 (TRA) 采集，从而可提高信噪比。

Agilent 8900 ICP-MS/MS 的低背景和高灵敏度使其适 合对含极小粒径纳米颗粒的溶液进行单颗粒分析。 本研究对粒径 10 nm 至zui高 60 nm 金纳米颗粒溶液 的粒径和组成进行了表征，获得了良好的准确度。 估算得出颗粒直径的实际检测限为 6.5 nm，BED 为 3 nm。本研究还对 10 nm、30 nm 和 60 nm 的纳米颗 粒混合溶液进行了准确的粒径分析，获得了良好的 分辨率。 采用 ICP-MS MassHunter 软件的可选单纳米颗粒应 用模块有利于整个纳米颗粒测定过程。该方法为直 径低至 10 nm 的 Au 纳米颗粒提供了快速且准确的 测定结果。