BX53P偏光测量显微镜使用UIS2无限远校正光学系统偏光显微镜在偏光应用时提供了的性能。可扩展的补偿器使BX53-P有足够多的功能来处理任何相关领域中的观察和测量应用。
BX53P偏光测量显微镜无限远校正的UIS2光学系统防止了光学显微镜性能的降低，消除了对显微镜光学放大倍数的影响，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或补偿器。在保持高水平系统灵活性的同时，BX53-P也兼容BX3系列系统显微镜的中间附件，以及相机和成像系统。
BX53P偏光测量显微镜ACHN-P和UPLFLN-P物镜中使用的精巧设计和生产技术与显微镜结合。BX53-P偏光显微镜在起偏振片和检偏振片里配备了高EF值滤色片，提供了的图像对比度。为满足研究和应用的多样化要求，型UPLFLN-P系列物镜采用了适用于多种观察方法的设计，包括Nomarski DIC和荧光显微镜观察以及偏光观察。
* EF（衰减系数）是平行和交叉偏光滤色片之间的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。
BX53-P显微镜可以使用6种不同的补偿器，能够测量多种水平延迟，范围从0到20λ。为使测量更容易，还提供了直接读数法。使用Senarmont*或Brace-Koehler补偿器可以获得更高的图像对比度，以改变整个视野里的延迟水平。
与绿色滤色片IF 546或IF 550。
使用U-CPA锥光镜观察附件后，正交偏光和锥光镜观察之间的切换简单而快捷。锥光镜成像的聚焦轻松而准确。透镜视场光阑的使用使其可以持续获取锐利而清晰的锥光图像。
旋转载物台安装的旋转对中装置能够顺畅地旋转标本。此外，为了实施测量，每隔45度就有一个咔哒停止装置。如果增加了双机械载物台，还可以进一步完成X-Y的微小移动。
