介电常数介质损耗测试仪特点及应用
一、 介电常数测试方法与步骤
1. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
2. 陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪GB/T1409在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。
3. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。
4. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。
1. 再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值大值）上。
2. 取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.
3. 计算被测样品的介电常数:
Σ＝D2 / D4
二、 介质损耗测试方法与步骤
1. 分布容量的测量
a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；
b) 将调谐电容器调到大值附近500P左右，令这个电容是C1，
c) 按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q1；
d) 将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，测出材料厚度后取出材料，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C2，Q值读数为Q2。
机构电容的有效电容为：Cz= C1－C2
分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和
电容器损耗角正切为
公式里的C0只是电感的分布电容值，不是主机软件显示的C0
2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。
4. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。
5. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，改变主机上的主调电容容量，使主机处于谐振点（Q值大值）上，然后按一次 主机上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x，记住厚度D2的值。
6. 取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时主机又失去谐振（Q值变小），再改变主机上的主调电容容量，使主机重新处于谐振点（Q值大值）上。
7. 第二次按下 主机上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。
8. 出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。
附录 一
LKI-1电感组
LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个，凡仪器在进行测试线圈的分布电容量，电容器的电容量，高频介质损耗，高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时，必须用电感组作辅助工具。
本电感组有较高Q值，能使仪器测量时得到尖锐谐振点，因而增加其测量的准确度，各电感的有关数据如下表：
电感No | 电感量 | 准确度% | Q值≥ | 分布电容约略值 | 谐振频率范围 MHz | 适合介电常数测试频率 |
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 180 | 5pF | 20~70 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 180 | 6pF | 1~3.75 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 190 | 6pF | 0.75~2.64 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 80 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.1MH |
附录 二
一、如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数
1 用锡箔纸覆胶在材料的两面，上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX;(材料大小要和测试电极大小基本一致)
2 超薄材料需要叠加：叠加方式如下
250μ贴合6层后测试；
200μ贴合8层后测试；
175μ贴合9层后测试；
125μ贴合12层后测试；
100μ贴合15层后测试；
75μ贴合20层后测试；
50μ贴合30层后测试。
3 计算公式
Σ＝(D2-2*DX)/D4
4 介质损耗系数测试同理
