目前市场上商家宣称的“值多圈编码器”，其实有多种内部原理，其中有两种事实上并不是完整的全行程值编码。需要了解它们使用的局限性，在哪些场合是不可以使用的。
一、值编码的定义与意义
1.完整的全行程预先编码的一性
编码器内部编码已预先有大数据编码，在整个规定的测量行程中，每一个位置是一性的编码，在使用后不会再产生新的编码。
2.与历史无关
与时间轴无关，无需计数过程，任何时间读取或者不读取都可以根据数据下游指令，可直接一次输出与时间轴无关的编码大数据。
3.的容错性
无计数过程，无记忆与再读取过程，也就是意味着无需考虑计数起始点、停电、以及停电后是否再有移动，也无需担忧在任何时候的干扰，干扰后是否还能恢复到真实的编码角度信息输出——所有的编码预先编好了，不会再产生新的编码，只与编码器转轴运动位置有关（与是否断电无关），外部的干扰也无法改变原始编码值。
二、计数器的电子多圈技术
1.一种单圈值编码，多圈增量计数。在360度范围内是值的，超过360度后回零，并以计数器的增减来增加多圈编码器的编码。也就是多圈数据原始编码没有，而是从寄存器里调取并在使用时通过`计数器获得新的编码。
2.以时钟表盘举例，这种电子多圈编码器只有一根表针，当经过12点后就回零，在经过12时，数值一下子从大到小，电子计数器根据前后两次读取的数值比较（历史关系比较），由大突变为小（下降沿），逻辑判断圈数增加了1；数值的由小突变为大（上升沿），逻辑判断圈数减少了1。计数器寄存。
3.由于我们已经清楚，本文题目上这两种伪值多圈属于“电子多圈”计数器性质，不符合上面的第1与第2条,因而不能称为“值编码”，我把它们称为“伪值”。
下面我们对这两种电子多圈技术的比较,重点将是在”容错性” 上的比较。
三、电池记忆电子多圈技术的原理及容错性
1.读数的可靠性问题
电池记忆多圈技术主要是光学单圈值码盘，通过两次先后的读取，判断是否过零点分界线。这里光学码盘的零点刻线是稳定的，分界线清晰的，关键是在过零点分界线前的后一次读数的可靠性，和过零点分界线后的次读数的可靠性，依赖于这两次读数的逻辑关系，而判断多圈的圈数是增还是减，或者不变。零点分界线的稳定清晰，两次读取的读数准确性，成了这种计数器容错性的大考量。当突然断电时或者有较大的干扰时，编码器的位置正好在零点位置及附近时，两次读数比较会产生反向抖动，这个问题就会比较突出。
2.能量管理问题
断电后，单圈光学码盘的读取可靠，需要有稳定的电池电源给光源供电，给感应传感器供电，而长时间的断电待机状态下，备用电池的电能很快就会耗尽。因此，这种技术需要有低功耗电源分配管理技术，既要保证光源与传感器的供电稳定，又要保持电池能量节约以维持长时间待机，往往采取一种间隙式供电策略。供电时间占空比、供电启动与暂停所带来的电源波动对光源与传感器读取的影响，供电工作占空比与待机时间的权衡，外部电源供电与内部电池供电的切换时对光源与传感器读取的影响，等等。例如突然的断电，或者开机通电时的电源管理，是否会因供电的抖动，在零点分界线附近的读数反向抖动，易造成过零点分界线的计圈判断的失败。
3.对电池能量的计算
对长时间待机或者电池寿命将尽时，对电池能量需作计算判断，以报警提示需要更换电池，以及因供电能量的不足而可能读取并计圈的失败。
4.电池本身的问题
在编码器内部的电池因容量较小，待机时间有限。而引线到外部的电池，容量虽然大了，但是引线接插件等故障可能性增加，对于抗振动环境有影响。电池的温度范围——不可逆性失效与可逆性供电不稳定。从目前的资料看，储存与工作温度不得大于100℃（不可逆失效），可逆性高低温参数（供电不稳定）没有看到资料描述。
KT5W-2P2116
I16-SA203
FRONT SCREEN REPLAC
IME08-02BPSZW2S
DSL-1205-G15MC
KT5W-2P2116
S30B- 2011CA
GTB6-N1211S38
WT24-2B220
RZTE-03ZUO-KWBS10
TBS-1BSG10506NM
WL27-3P2430
VTE18-4P2240
HTB18-B1G2AB
C4C- EA0903A10000
GTB6-N1211S38
1070830 MZT7 -03VPO-KU0
DBS60E-THFK02048
WS/WE45-P260S01
KUP-1012-B
1037397 DKS40-EZL0-S03
DFS60B-S1AA04096
WTB9-3P1111S14
IME08-02BPSZTOS
SRS50-HZA0-S39
WL14- 2P430
WTV4-3N1321S49
DKS40- E5L00360
ATM60-P4H13X13
A3M60B- BDPB013X13
