电路芯片拉拔力测试仪主要用于测试芯片的拉拔力测试，先在CCD相机上观察先接触到胶水，然后再拉开，后显示一个峰值，一般会在5克左右的力为测试合格。
电路芯片拉拔力测试仪MX-0580(单臂）设备概述：主要适用于试验负荷低于5000N的各种金属、非金属及复合材料进行力学性能测试和分析研究。具有应力、应变、荷重、位移四种闭环控制方式，可求出大力、抗拉强度、弯曲强度、压缩强度、弹性模量、断裂延伸率、屈服强度等参数。根据GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等标准进行试验和提供检测数据。并能对试验数据曲线进行叠加分析处理、存储、打印、绘制曲线，打印完整报告单，进行工艺调整与生产控制。符合《GB/T16491-2008 电子万能试验机》标准要求。机型结构均充分考虑了现代工业设计，人体工程学之相关原则，外壳采用合金框架构以增强刚度系数及表面双层金属烤漆，延长主机使用寿命及美化外观。
芯片压拔力试验机MX-0580自动采集处理试验数据，绘制多种曲线并打印试验报告。主机与辅具的设计借鉴了国外的*技术，具有较宽的调速范围。采用微机控制并结合*的电子控制技术，实行标准化、单元化设计，具有控制准确、测量精度高、配置灵活，可轻松实现附件互换，极易售后服务等.
电路芯片拉拔力测试仪MX-0580(单臂）技术参数：
1. 产品规格： MX-0580(单臂）
2． 精度等级： 0.5级
3． 大负荷： 5N、10N、20N、50N、100N、200N、500N、1000N、2000N、5000N（可选）
4． 有效测力范围：0.1/100-99%;
5． 试验力分辨率，大负荷±500000码；内外不分档，且全程分辨率不变。
6． 有效试验宽度：120mm
7． 有效试验空间：800mm
8． 试验速度:：0.001~500mm/min(任意调)
9. 速度精度：示值的±0.5%以内；
10．位移测量精度：示值的±0.5%以内；
11．变形测量精度：示值的±0.5%以内；
12．应力控速率范围： 0.005%～6％FS/S
13．应力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S时，为设定值的±1%以内；速率≥0.05％FS/S时，为设定值的±0.5%以内；
14．应变控速率范围： 0.002%～6％FS/S
15．应变控速率精度： 速率＜0.05％FS/S时，为设定值的±2%以内；速率≥0.05％FS/S时，为设定值的±0.5%以内；
16. 恒力/位移/变形测量范围：0.5％～99％FS
17．恒力/位移/变形测量精度：设定值＜10％FS时, 为设定值的±1%以内； 设定值≥10％FS时, 为设定值的±0.1%以内；
18．试台升降装置：快/慢两种速度控制，可点动；
19．试台安全装置：电子限位保护
20．试台返回：手动可以高速度返回试验初始位置，自动可在试验结束后自动返回；
21．试验定时间自动停车,试验定变形自动停车,试验定负荷自动停车
22．超载保护：超过大负荷10%时自动保护；
23. 自动诊断功能，定时对测量系统、驱动系统进行过载、过压、过流、超负荷等检查，出现异常情况立即进行保护
24．电源功率： 750W
25．主机重量： 100kg
26. 电源电压: 220V（单相）
27. 主机尺寸：470*400*1510mm
