菲希尔X射线荧光测厚仪分析仪的应用

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛：
在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。
在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。
在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件*材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。
对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（RoHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段。
对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光谱仪都能完美胜任。

典型应用领域:

线路板行业.........................Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等镀层的测量
电子行业.........................接插件和触点的镀层测量electronics industry
装饰性镀层.........................Cr/Ni/Cu/ABS
批量生产部件.........................（螺丝和螺母）防腐镀层测量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe
测定电镀槽中的金属含量
珠宝和手表行业金和贵金属分析
测量几个纳米的超薄镀层，如印刷线路板和电子元件上的Au和Pd。
痕量分析（如电子元件(RoHS)或工具中的有害物质）
用XAN 150分析诸如Al，Si，P等轻元素
实验室，测试机构和大学里一般性的材料分析和镀层厚度测量