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2020/6/28 15:26:47高频介电常数测试仪和工频介电常数测定仪区别是频率上的区别,测试方法上的区别
LJD-C型高频介电常数测试仪
一、概述:
LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到160MHz。
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至z低,* Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
二、主要技术特性:
Q 值测量范围: 2 ~ 1023,量程分档:30、100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档
固有误差:≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差:≤ 7 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
电感测量范围: 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围: 1 ~ 200pF
主电容调节范围: 18 ~ 220pF
主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信号源频率覆盖范围: 100kHz ~ 160MHz
频率分段( 虚拟 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
频率指示误差: 3 × 10 -5 ± 1 个字
三、夹具工作特性
1.平板电容器:
极片尺寸: Φ50mm/Φ38mm可选
极片间距可调范围: ≥15mm
2. 夹具插头间距: 25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值:≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率: 0.001mm
四、配置:
主机 一台
电感 九支
夹具 一套
随机文件一套
QS37a型介电常数测定仪是本公司推出的新一代介电常数测定仪,主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量(C)及介电常数(ε)。
二、符合标准:
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法.
GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量.
三、仪器特点
1、桥体内附电位跟踪器及指零仪,外围接线极少。
2、电桥采用接触电阻小,机械寿命长的十进开关,保证测量的稳定性。
3、仪器具有双屏蔽,能有效防止外部电磁场的干扰。
4、仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理,使仪器技术性能稳定可靠。
5、仪器内置100pF标准电容器及5000V数字式高压测试电源。
四、技术指标:
1、测量范围及误差
本电桥的环境温度为20±5℃,相对湿度为30%-80%条件下,应满足下列表中的技术指示要求。
在Cn=100 pF、R4=3183.2(Ω)时:
测量项目 | 测量范围 | 测量误差 |
电容量Cx | 40pF—20000pF | ±0.5% Cx±2pF |
介损损耗tgδ | 0-1 | ±1.5% tgδx±0.0001 |
在Cn=100 pF、R4=318.3(Ω)时:
测量项目 | 测量范围 | 测量误差 |
电容量Cx | 4pF—2000pF | ±0.5% Cx±3pF |
介损损耗tgδ | 0-0.1 | ±1.5% tgδx±0.0001 |
RY2A型固体绝缘材料测试电极
一、简介:
本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等的相对介电系数(ε)与介质损耗角正切值(tgδ)的测试。本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数(ε)和介质损耗角正切值(tgδ)。本电极的设计主要是参照国标GB1409。本电极采用的是三电极式结构,能有效的消除表面漏电流的影响,使测量电极下的电场趋于均匀电场。
二、主要技术指标:
环境温度:20±5℃
相对湿度:65±5%
高低压电极之间距离:0~5mm可调
百分表示值误差:0.01mm
测量极直径:50mm(表面积19.6cm2)
空极tgδ:≤3×10-5
Z高测试电压:2000V
体积:Ф210mm H180mm
重量:6kg