扫描电化学显微镜在腐蚀研究方面具有重要意义

    扫描电化学显微镜将传统的电极表面的电化学行为研究从宏观尺寸拓展到局部的微米和纳米尺度范围内。传统的SECM使用超微电极（R<25um）探针在样品表面近距离进行恒高扫描以得到探针与样品之间的电化学反应信号，从而可以用来研究探针或者样品与电化学反应活性物种之间的相互作用过程和原理。传统的SECM是探针以恒高方式扫描，而实际样品表面高低起伏的变化会导致终得到的电化学反应信号中夹杂着由于探针与样品之间实际距离的不固定而引起的卷积效应，降低了局部电化学信号的分辨率。