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内置打印机的电磁膜测厚仪的鼎级仪器-堪称*

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2020/10/22 18:06:21

电磁膜厚计LE-200J

 

 

 

主要规格

测量方式电磁感应式
测量目标磁性金属上的非磁性涂层
测量范围0-1500μm或60.00密耳
测量精度小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2%
解析度小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm
符合标准JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376
统计功能测量次数,平均值,标准偏差,大值,小值,程序段号
探测单点接触恒压型(LEP-J)
显示方式数字(LCD,小显示位数0.1μm)
外部输出RS-232C接口(传输速度2400bps)
电源供应AC100V(50 / 60Hz)或电池1.5V(AA碱性)主机x 6,打印机x 4
尺寸/质量120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤
配件标准板(10μm,50μm,100μm,350μm,800μm,1 mm,所有近似值,各1张),铁底座,标准板盒,电池1.5 V(AA碱性),AC适配器,探针适配器,打印机纸,携带案件
选项L型探头(LEP-21L),RS-232C连接电缆,数据管理软件“ Data Logger KLD-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp”

 

关于凯特的膜厚计

 

膜厚计的种类和用途

对使用金属的工业产品,在表面进行涂饰和镀金等处理。在表面处理层中,薄的话容易产生腐蚀,厚的话经济损失会变大,而且厚度不一定的话会降低不美观的商品价值。也就是说,在涂饰和镀金方面正确管理厚度是很重要的,承担这一点的测定器是膜厚计。

根据素地金属和测定的涂层的组合,有测定原理不同的几种阵容,请选择合适的种类。

电磁膜厚计的测量原理

 

涡流膜厚计的测量原理

 

磁性核

 

使交流电磁铁接近铁(磁性金属)的话,根据接近距离,贯穿线圈的磁通数会发生变化,因此线圈两端的电压会发生变化。

从电流值读取该电压变化

取,换算成膜厚。

可以测量磁性金属上的非磁性涂层。

 

绝缘体铁芯

 

如果将流过一定高频电流的感应线圈靠近金属,金属表面会产生涡流。这个涡流根据感应线圈和金属面的距离而变化,因此感应线圈两端的电压也会变化。

将此变化从电流值转换为读取膜厚度。可以测量非磁性金属上的绝缘涂层。

 

磁场

次线圈电压的变化

二次线圈涂层磁性金属

          

磁场

                                                                      文件电压的变化

皮膜

                                                              非磁性金属涡流

膜厚计的种类分类/可测量的基底和涂层

■:电磁膜厚计■:涡流膜厚计F:费舍尔镜:可附带条件

 

 

不锈钢材质有时不能根据条件进行测定。请事先咨询。□空栏部分的组合可能会有一部分可以测定。请咨询。

■附属・选配标准板一览(产品附带的标准板与下表不同,是实测的近似值)

             容器种类

张数

 

 

 

厚度(μm)

 

 

 

材质

LE-200J/LZ-200J

6

10

50

100

350

 

800

1000

 

 

LH-200J

5

10

50

100

350

 

800

 

 

 

LE-373/LZ-373

6

10

50

100

 

500

 

1000

1500

 

LH-373

5

10

50

100

 

500

 

1000

 

聚酯薄膜

LZ-990

3

 

50

100

 

 

 

1000

 

 

所有设备类型通用选项

10

25 37

50 75

100

125

250

300 350

500 700

800

1000

1500

 

■探测一览

类型

钢笔型探头(标准附属):LEP-J/LHP-J

管内面测定用探头(选配件):LEP-22

对应器种类

LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373

LE-200J

尺寸

 

 

类型

L型探头(选配件):LEP-21L

对应器种类

LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373

 

 

■膜厚计适用规格一览

测定方式

容器种类

规格

电磁感应式

LE-200J LE-373

JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641

ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

涡流式

LH-200J LH-373

JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2

ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

双重

LZ-200J LZ-373

电磁感应式时

JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641

ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376

类型

LZ-990

涡流式的情况

JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2

ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

电磁膜厚计LE-200J

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