又称为偏移或校正值，可以使用4种方法进行该调整:
1.简单零校准调整
测量没有涂层的基体。如果测厚仪未在所用探头的误差范围内显示0，将探头从表面移开并按+键/-键调整数值，直至屏幕显示0。测量并调整，直至多次测量基体的平均值为0。
2.平均值零点校准
要在粗糙表面或曲面上读取到0,首*方法是多次测量没有涂层的基体的厚度并计算结果的平均值。
①选择零点调整菜单选项。
②按+键选择用于计算平均值的读取次数(通常测量3-10次)。读数的差异越大，应增加读取次数以计算出平均值。
③重复测量基体。测厚仪会在相邻读取操作之间等待两秒，使用户能够将探头正确放置在被测表面上。完成后一次测量后，测厚仪会对读取数据进行计算并显示0，它表示所有零点调整测量操作的平均值。
3.简单调整至已知厚度
有时需要将测厚仪调整至某个已知厚度(例如，校准箔厚度)而不是0。
测量被测物体。如未获得期望读数(在误差范围内)，将探头从被测表面移开，然后按+键/-键将显示的读取数据调整为期望厚度。按住按钮可增加调整速度。按确认键。
4.平均调整至已知厚度
对于粗糙表面或曲面，首*方法是多次测量已知厚度并计算结果的平均值。
①选择一点调整法菜单选项。
②按+键选择用于计算平均值的测量次数(通常测量3-10次)o测量读数的差异越大，应增加读取次数以计算出平均值。
③重复测量已知厚度的被测物。测厚仪会在相邻测量操作之间等待2秒，使用户能够将探头正确放置在被测表面上。完成后一次测量后，测厚仪会计算并显示读数,它表示所有测量操作的平均值。如果未获得期望读数(在误差范围内)，将探头从被测表面移开，按+键/-键将显示的读数调整为期望厚度。按确认键。
两点校准
适用于非常规基质材料、形状或情况。在有限、特定范围内提供更高的精度。此方法需要对已知厚度值执行两次测量操作:一个较薄的数值(可以为零)和一个较厚的数值。被测物的厚度范围应该在这两个值的范围内。
①选择两点调整法
②按+键选择用于计算较薄值平均值的测量次数(通常测量3-10次)。读数的差异越大，应增加测量次数以计算出平均值。
③重复测量较薄值。测厚仪会在相邻测量操作之间等待2秒，使用户能够将探头正确放置在被测表面上。完成后一次测量后，测厚仪会对读数进行计算并显示一个厚度值，它表示所有测量的平均值。
④将探头从被测表面移开，然后按+键/-键将显示的读取数据调整为较薄值的已知厚度值。按确认键。
⑤对较厚值重复第2~4步。
锁定校准设定：该项被激活时，将显示图标并锁定当前校准设置以防止用户另作调整。
N锁：该选项仅限FN两用探头。对非铁基体进行常规测量时，请选择N锁定。探头在测量时，只使用涡流方法。这可以缩短测量时间并延长电池使用时间。
校准重置：该功能可将校准设置恢复成为出厂校准。
