日本日置阻抗分析仪IM3570概述
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量
LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
精度计算软件
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日本日置阻抗分析仪IM3570特点
★ 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
★ LCR模式下樶快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
★ 基本精度±0.08%的高精度测量
★ 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
★ 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
★ 可以用于无线充电评价系统TS2400
