LJ-G系列可在X及Z方向上测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。
特性
- 可在8个点上同时进行测量。
- E3-CMOS 影像传感器提供稳定的测量
- Quatro连接系统可实现超出想象超高取样速度，达到3.8ms。
- 3.8ms的高速取样速度，F.S.的0.1％的高精度
- 简单设置菜单 (同类)
产品
3200 points 超高精细测量
2D/3D 线激光测量仪
LJ-X8000 系列- 同行业超高的高精细测量
- 可支持各种材质
- 设定只需 3 步
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