1、试件的准备
为了提高检测结果的可靠性，应对受检件的材料牌号、性能，制造方法和工艺特点，影响其使用性能的缺陷种类及形成原因、缺陷的最大可能取向及大小、受检部位受力状态及检收标准进行了解。
2、检测条件的确定，包括超声波检测仪、探头、试块等的选择
入射方向的选择应使声束中心线与缺陷延伸平面，特别是与最大受力方向垂直的缺陷面尽可能地接近垂直，并力求得到缺陷最大信号，此外，为避免被探工件形状和结构可能产生反射或变型信号对缺陷的判别造成困难，入射方向还应选择在不会出现这些干扰信号的方向上。必要时应从正、反两面进行检查。
超声波探伤仪探头的选择也是尤为重要的。作为超声检测的重要工具之一，探头的种类很多，结构型式也各不相同。检测前应根据被检对象的形状、衰减情况和技术要求来选择探头。探头的选择包括选择探头型式、频率、晶片尺寸和斜探头的折射角(K值)等。一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探伤方法，一旦方法确定，应采用什么型式的探头也就确定了。
3、检测仪器的调整
超声波探伤仪是一种需求的精密检测仪器，在运用时有必要做好各个方面的作业。在操作钱对超声波探伤仪需要精密的对一些参数进行校正。由于超声波探伤仪可以应用在钢结构、铁路交通、金属加工业、机械制造等的工件内部的好坏勘探，若是勘探的成果差错过大，那么有可能对操作人员的人身财产等安全带来严峻的损伤。因而为了保证超声波探伤仪所丈量的准确度，在运用前对超声波探伤仪的调理是非常重要的。
（1）零点校正
由于超声波经过保护膜、耦合剂(直探头)或有机玻璃楔块(斜探头)进入待测工件，在缺点定位时，需将这局部声程移去，才能得到超声波在工件中实践声程。零点通常是经过已知声程的试块进行调理，如CSK-IA试块中的R100圆弧面(斜探头)或深100mm的大平底(直探头)。
（2）K值校正
由于超声波探伤仪斜探头探伤时不只要知道缺点的声程，更要得出缺点的笔直和水平方位，因而斜探头还要准确测定其K值(折射角)才能准确地对缺点进行定位。K值通常是经过对具有已知深度孔的试块来调理，如用CSK-IA试块50或1.5的孔。
（3）定量校正
定量调理通常选用AVG(直探头)或DAC(斜探头)。
4、扫查
超声波探伤仪扫查一般考虑两个原则，一是保证试件的整个检查区有足够的声束覆盖以避漏检；二是扫查过程中声束入射方向始终符合所规定的要求。一般标准都规定扫查速度不得大于150mm／s。且在扫查过程中应给探头以适当的和一致的压力，保持探头移动平稳，扫查过程中，探头的方向应严格按照扫查方式的规定(斜射探头尤应注意)。
因为超声波探伤仪探头移动方向的改变对于单探头探伤，将因入射波的方向改变而使缺陷检出灵敏度变化；对于双探头法探伤，则可使反射或透射波不能为另一探头接收。所以为免漏检，每次扫查应有一定比例的声束覆盖率。
需要提醒的是，用户在使用超声波探伤仪前，应仔细阅读使用说明或咨询供应商，由于不一样品牌，操作方式也有很大差异。
