SMPS扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统。
Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪（U-SMPS）可提供两种版本。长分类柱（2050X / 2100X / 2200X 型号）可以确定 8 至 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。
Palas®通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器（DEMC），也称为差动迁移率分析仪（DMA）]，根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后，在下游的Charme®气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。
气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是，这种方法需要很高的成本。因此，其适用性被限制于高气溶胶浓度（例如，燃烧过程或颗粒发生器的下游）。可以通过物理参数直接追溯每时间单位（流量）的电荷测量值。其结果是，此方法主要用作凝结粒子计数器（例如UF-CPC）校准期间的参考。
U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描，或者多在128个尺寸通道中执行扫描，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（丰富的统计和平均值计算）和导出功能。
