三维表面形貌测量仪采用了上等光学系统,可通过非破坏观察法生产高画质的图像并进行3D测量，可以满足不同样品的观测需求。本产品是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款检测设备，测量精度重复性达到世界较高水平；关键硬件采用美国、德国、日本等；配备进口第三方校准标准件，高性价比微观形貌测量设备。
应用：
三维表面形貌测量仪用来测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓、表面粗糙度等；
1、精密部件：检测对表面磨损，表面粗糙度，表面微结构有要求的零部件，比如发动机汽缸、刀口等；
2、生命科学：测量stents支架上镀层厚度等；
3、微电子机械系统：微型器件的检测，医药工程中组织结构的检测，如基因芯片等；
4、半导体：检测微型电子系统，封装及辅助产品结构设计；
5、太阳能：太阳能电池片栅线的3D形貌表征、高宽比测量，制绒后3D形貌表征，粗糙度分析等；
6、纸张：纸张、钱币表面三维形貌测量；
7、LED：用于蓝宝石衬底的测量，抽检PSS ICP后的WAFER的3D形貌。
产品特性：
1、采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨；
2、测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高；
3、测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料；
4、尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面；
5、不受样品反射率的影响；
6、不受环境光的影响；
7、测量简单，样品无需特殊处理。
