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影响介质损耗测量的因数，介质损耗使用方法及tanδ偏大的原因分析，影响介质损耗测量的因数来自于虑本电力检测试验技术，虑本电力致立研发标准、稳定、安全的电力试验设备。

介质损耗测试的要求

在电力预防性试验项目中，针对变压器电压等级为35kv及以上并且容量在8000kvA及以上的电力变压器，要求测量变压器的介质损耗角正切值tanδ，是电气设备交接试验标准中明确规定，测量结果必须符合以下要求：

被测绕组的tanδ值不大于产品出厂试验值的130%;

影响介质损耗测量的因数

温度影响：首先明确的说，温度对介质损耗测量结果有直接的影响，影响的程度随着绝缘材料，设备结构的不同而异，一般情况，tanδ会随着温度的升高而变大，测量过程中应当将在不同温度下测量得出的结果换算至20℃时，在进行比较。

受试验电压的影响： 理论情况下，良好绝缘的tanδ不随试验电压的升高而明显增长，如果内部有缺陷，则tanδ值会随试验电压的升高而明显增长

tanδ与试品电容的关系影响：对于电容较小的设备（套管、互感器、耦合电容器等）测量tanδ值有效的发现局部集中性和整体分布性的缺陷，但是对于电容量较大的设备，测量介质损耗只能发现绝缘的整体分布性缺陷，原因是因为，局部集中性的缺陷引起的损耗增加只占总损耗的极小部分，这也是tanδ不能反应大容量被试品局部集中性缺陷的原因，也是大型变压器除了测量本体介质损耗之外还需要测量单套管tanδ的原因。

下图是介质损耗角正切值tanδ(%)温度换算系数表：

tanδ偏大的原因分析

陶瓷表面受潮，瓷套表面电阻的大小直接影响介质损耗测量的准确度，主要是因为表面电阻与体积电阻并联在一起，当采用介质损耗测试仪反接法时, 介质损耗tanδ值会偏大，所以在测量之前，用干毛巾，电吹风或者远红外烘烤表面，也可以用挥发性较强的液体清洗表面，可以有效的预防tanδ值偏大的问题。

电场干扰，干扰电流与被试电流之间的干扰，使tanδ测量结果大于实际值，此时，应当采用试验电源移项法测量tanδ值，建议用抗干扰介质损耗测试仪或者异频介质损耗测试仪进行测量。

被试品Cx接地回路不良也会影响值的大小。