相控阵探伤仪通过软件可以单独控制相控阵探头中每个晶片的激发时间，从而控制产生波束的角度、聚焦位置和焦点尺寸。这种使用扇形扫查方式能提供一定角度范围的扫查图像，因此不必像传统超声那样需要频繁更换不同K值的探头，就可以轻松覆盖检测区域。作为无损检测利器，相控阵探伤仪能够快速、便捷、无损伤、准确地进行工件内部多种缺陷(裂纹、疏松、气孔、夹杂等)的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室,也可以用于工程现场，如今在各个行业的应用日渐广泛。 相控阵探伤仪可进行快速检测，并生成被测工件内部结构的精确、详细的横截面图像。相控阵技术使用多个超声晶片及电子时间延迟，创建可以电子方式传播、扫描、扫查及聚焦的声波，以进行快速检测、完整的数据存储，以及多角度的检测。相控阵技术可提供极为可靠的测量结果。
选择使用相控阵探伤仪时，操作人员无需更换探头或楔块就能方便地利用一个探头达到多个角度和聚焦深度。扇形扫描和精确的波束控制显著地提高了探测缺陷和判定缺陷大小的能力。从一个接触位置利用一次扫查,便可以覆盖更大的检测区域，并且可在一个真彩色的扇形显示图上实时观察到各种数据。与传统的超声检测相比，相控阵探伤仪在提高检测效率和节省检测成本方面都具有明显优势，自然受到无损检测专业人士的青睐。
