据相关数据统计，在AI、5G、汽车智能化、物联网等下游应用的推动下，全球半导体总需求未来十年将仍然保持稳定增长。随着应用技术的不断发展，对于半导体材料表征的要求也越来越高，霍尔效应测试是半导体材料的重要测试方法，它可以测得半导体材料的导电类型、载流子浓度、托移率、电阻率、霍尔系数等参数,同时还可以用于研究半导体中的杂质和电活性缺陷,所以高精度的霍尔表征对于半导体材料尤为关键。
当电流垂直于外磁场通过半导体时，载流子发生偏转，垂直于电流和磁场的方向会产生附加电场，从而在半导体的两端产生电势差，这一现象就是霍尔效应，这个电势差也被称为霍尔电势差。如图所示，若在X方向上通以电流Is，在Z方向上加磁场B，半导体中载流子（电子）将受到洛伦兹力，则在Y方向上半导体两侧产生附加电场---霍尔电场。
将某种半导体材料的霍尔元器件置于待测磁场的相应位置，并使元件平面与磁感应强度B垂直（磁感应强度可由励磁装置提供，恩智NGI 2600系列源表提供励磁电流Im），由NGI N2600源表在其控制端输入精确的恒定工作电流Is，霍尔电压输出端精确测量霍尔电势UH的值。其次，N2600系列源表可提供1、3象限电流源，使控制端输入电流可正反向，励磁电流正反向也可使励磁磁场正反向。
测试数据处理与分析：
在励磁电流Im=0.80000A时，霍尔电压UH与Is的测量数据与关系曲线如下：
表1 UH-Is Im=0.80000A
N2600系列高精密数字源表还采用七档电流范围设置，可以将接收的数据误差降低；源表扫描速度可达1ms每点，能快速的建立扫描，缩短测试时间，有效减少待测物的热磁效应，可以高效满足霍尔效应测试需求。
产品选型
关于恩智
恩智测控（NGI）为智能设备与测控仪器的专业制造商。始终秉持“以客户为中心，以奋斗者为本”的企业宗旨，致力于信息化制造、科学实验、 教育科研等相关领域测控解决方案的研究与探索。通过不断深入接触并了解各相关行业的测控与电子电路技术需求，持续投入研发并向各行业合作伙伴提供具有竞争力的解决方案，NGI已经拥有了广泛的测控和电子技术类产品线，如电源&电子负载产品线，电池模拟器产品线、NXI测控产品线、充放电测试产品线及各种专业测试系统等，并致力于为客户提供电池、汽车电子、燃料电池、消费类智能终端、新能源汽车、半导体等行业应用解决方案。
