宏观角分辨仪是用于测量样品角分辨光谱的系统，被广泛地应用于诸多领域的样品角分辨光谱研究。在许多领域中，科研人员为了获取样品的宏观角分辨光谱，需要动手搭建复杂的支架系统。这是一件耗时耗力的工程。R1的出现改变了这一切。它化繁复为简单，节省了用户在仪器设备搭建上花费的时间，使得测量角分辨光谱成为一件快速而轻松的事情。
一、应用范围包括：
光子晶体（PhotonicCrystals）、结构色（StructuralColors）、超材料（Meta-materials）、微纳光学（Nano-photonics）、纳米材料光学性质、光学镀膜、表面等离子体（SPPs/SPR）、光栅、纳米纺织材料、超晶格材料、新型LED、液晶材料、屏幕显示等。
二、典型应用领域：
meta-material样品在不同偏振态具有不同光谱特性，需要光谱测量系统具有各偏振的分辨能力。
薄膜光谱样品具有能带结构，呈现光谱的各向异性，需要光谱测试系统具有精确的角度区分能力。
SPP/SPR表面等离子体具有敏感的光谱和角度依赖，需要光谱测试系统具有宽泛的光谱测量波段，和精确的角度分辨能力。
宏观角分辨仪具有六种基本的角分辨光谱测量模式，包括：反射模式、透射模式、散射模式、辐射模式、自由模式和编程模式。R1可以方便地在这些模式之间切换，快速获取样品的各种角分辨光谱。
采用智能旋转设计，易于控制出射&入射方向，快速实现透反射/散射/辐射等7种光谱测量模式。同时，选用Polka分束镜，集成Fluorite消色差萤石透镜，内置氘气/卤素光源，di一次将波段拓展至250~2500nm。而这一切皆浓缩于R1角分辨光谱仪内，最终为“复杂样品”的光谱测量带来全新的体验。
