电子材料中有害重金属分析设备介绍
RoHS 指令于 2006 年 7 月在 EU（欧盟）生效，限制了六种特定有害物质（铅、汞、镉、六价铬、PBB 和 PBDE）在电气和电子设备中的使用。使用 OURSTEX160RoHS，可以在短时间内轻松测量这些有害物质。它还紧凑轻便，非常适合在现场进行现场分析。
【特征】 ● 无需液氮或冷却水即可使用100V 电源进行分析。 ● 高计数率和高分辨率可在短时间内实现微量分析 ● 非常适合符合 WEEE 和 RoHS 法规以及 ELV 指令的测量 ● 可在大型样品室对样品进行无损分析 ● CCD摄像头的样品位置确认显示 【应用实例】 ● 稀土分析 ● 焊锡中铅的分析 ● 分析金属和电子元件中的有害元素
贵金属分析
稀土分析
硬币分析
食品分析
耳环分析
环分析
婴儿玩具中的有害元素分析
配件中的有害元素分析
| 测量原理 | 能量色散X射线荧光分析法 |
| 测量对象 | 土壤样品、电气/电子零件、塑料等。 |
| 测量元件 | 铬，砷，硒，BR /，镉，汞，铅（13 AL- 92 U）等。 |
| 过滤机制 | 一级过滤器（2种）/二级过滤器自动切换机构 |
| 样品室形状 | W270mm x D250mm x H91mm |
| 样品室氛围 | 大气层 |
| X射线额定输出 | 48kV，1.75mA 至 50W |
| 探测器 | 电子冷却硅漂移探测器 |
| 重合电路 | 数字处理方式 |
| 使用条款 | 温度：5～27℃ 湿度：20～80% 电源：AC100V～240V，500W 接地：D类接地 |
| 其他（可选） | 校准曲线标准样品（PVC/PE/铜合金/铝合金） |
