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电子材料中有害重金属分析设备介绍

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2021/11/12 16:54:34

电子材料中有害重金属分析设备介绍

RoHS 指令于 2006 年 7 月在 EU(欧盟)生效,限制了六种特定有害物质(铅、汞、镉、六价铬、PBB 和 PBDE)在电气和电子设备中的使用。使用 OURSTEX160RoHS,可以在短时间内轻松测量这些有害物质。它还紧凑轻便,非常适合在现场进行现场分析。

OURSTEX 160 RoHS 照片

 【特征】  ● 无需液氮或冷却水即可使用100V 电源进行分析。  ● 高计数率和高分辨率可在短时间内实现微量分析  ● 非常适合符合 WEEE 和 RoHS 法规以及 ELV 指令的测量  ● 可在大型样品室对样品进行无损分析  ● CCD摄像头的样品位置确认显示  【应用实例】  ● 稀土分析  ● 焊锡中铅的分析  ● 分析金属和电子元件中的有害元素


应用实例

OURSTEX 160 RoHS 规范

 

测量原理 能量色散X射线荧光分析法
测量对象 土壤样品、电气/电子零件、塑料等。
测量元件 铬,砷,硒,BR /,镉,汞,铅(13 AL- 92 U)等。
过滤机制 一级过滤器(2种)/二级过滤器自动切换机构
样品室形状 W270mm x D250mm x H91mm
样品室氛围 大气层
X射线额定输出 48kV,1.75mA 至 50W
探测器 电子冷却硅漂移探测器
重合电路 数字处理方式
使用条款 温度:5~27℃
 湿度:20~80%
 电源:AC100V~240V,500W
 接地:D类接地
其他(可选) 校准曲线标准样品(PVC/PE/铜合金/铝合金)


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