为了使产品能达到预定的可靠性指标，在研制阶段需要对样品进行可靠性试验，以便找出产品在原材料、结构、工艺、环境适应性等方面所存在的问题，而加以改进，经过反复试验与改进，就能不断地提高产品的各项可靠性指标，达到预定的要求。以下是由三木科技整理的适应不同环境的可靠性试验设备：
一、高温烤箱
考核在不增强电应力的情况下，高温对产品的影响。有严重缺陷的产品处在非平衡态，是不稳定态，由非平衡态向平衡态的过渡过程既是诱发有严重缺陷产品失效的过程，也是为了促进产品从非稳定态向稳定态的过渡过程。
试验标准：GB/T 2423.2-2008
二、高低温试验箱
考核产品承受一定温度变化速率的能力及对高温和低温环境的承受能力.是针对产品热机械性能设置的。当构成产品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂纹等。
试验标准：IEC68-2-30 ,GB10592-93 ,GB2423.1-2001,GB2423.2-2001,GB2423.3-93,GB2423.4-93
三、热冲击试验箱
试验产品在温度剧烈变化，就是承受大温度变化速率的能力。试验为了找出产品的机械结构缺陷劣化，从而改善，热冲击试验与温度循环试验的目的大同小异，不过热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。
试验标准：GB/T 2423.59-2008, GB11158, GB10592, GB10589
四、高低温低气压试验箱
试验产品在低气压工作环境的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱;易产生电晕放电、介质损耗等;气压减小会导致散热条件变差，会使元器件温度加大。这些因素都会使被试验产品在低气压条件下丧失规定的功能，有时会产生损伤。
试验标准：GB/T 2423.21-2008, GJB150.2, GJB360A, GB/T13543
五、恒温恒湿试验箱
以施加加速应力的方法评定微电路在潮湿和炎热条件下抗衰变的能力，是针对典型的热带气候环境设计的。微电路在潮湿和炎热条件下衰变的主要机理是由化学过程产生的腐蚀和由水汽的浸入、凝露、结冰引起微裂缝增大的物理过程。试验也考核在潮湿和炎热条件下构成微电路材料发生或加剧电解的可能性，电解会使绝缘材料电阻宰发生变化，使抗介质击穿的能力变弱。
试验标准：GB/T 2423.3-2016, GB/T 2423.4-2008 GJB 1509, GB/T 2423.34-2016
六、盐雾试验箱
以加速的方法评定元器件外露部分在盐雾、潮湿和炎热条件下抗腐蚀的能力，是针对热带海边设计的.表面结构状态差的元器件在盐雾、湘湿和炎热的状态下外露部分会产生腐蚀。
试验标准：GB/T 2423.17-2008, GB/T 10587-2006, GB/T 10125-2012
