菲希尔x射线测厚仪XDL240产品介绍
德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用自动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
简介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量，如测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL 240 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了 FISCHER *基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 XY 工作台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的 Z 轴系统，可编程运行。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精确调整。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能
强大而界面友好的 WinFTM软件在电脑上完成。
XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受*保护的仪器，型式许可*符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
