超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。
为了得到准确的测量数据，在测量之前必须要对超声波测厚仪进行校正。具体来讲，需要先对测厚仪的下线和线性进行校正。一般来讲，测厚仪的测量下限需要用厚度为下限的试块进行校准。如果已经知道被测材料的声速，则可以事先将声速值调节好，之后在测厚仪附带的试块上，点击校准按钮，完成测厚仪的校正工作。
通常情况下测厚仪附带的试块厚度较小，如果需要的厚度和试块的厚度有较大差距的时候，则需要用台阶试块分别在厚度接近待测厚度的*值的范围之间进行准确校正，这样在实际应用的时候才能够得出较为准确的测量数据需要注意的是，由于不同品牌的超声波测厚仪，其附带的试块厚度不相同，具体的应用范围和操作流程也存在着一定的差异，因此在使用的时候需要注意，避免出现记错试块厚度的情况，这样就会影响到测量的准确度。
