日本日置C测试仪 3504-40概述
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
■ BIN功能
C测量根据测量值最多分类为14个等级※1，易于进行分拣等。 ※1 3506,3505最多为13个等级。3504-40无BIN功能。
■ 比较器功能
第一参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出，设定值始终显示。
■ 存储功能
测量数据可保存在主机。可通过GP-IB，RS-232C读出。 3506-10 ………………………………..1,000个 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000个
■ 只需选择的简单操作&LED显示
只需从面板标记项目中进行选择，操作简单。设定好的测量条件会点亮，能够一目了然把握设定条件。
■ 触发同步输出功能
施加触发后输出测量信号，仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流，因此能够减少接点的损耗。
■可存储99※2组测量条件
最多可保存99组测量条件，可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。 ※2 3506-10最多为70组。
■标配接触检查功能
可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品，对提高成品率做出贡献。
日本日置C测试仪 3504-40特点
★ 高速测量2ms
★ 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
★ 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
★ 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
★ 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
