涂层测厚仪主要是利用磁感应原理或者电涡流测量原理等来测量导磁材料上的非磁性涂层厚度。
涂层测厚仪主要有以下种类:1）磁性测厚法。所谓磁性测厚法是适用于测量导磁材料上的非磁性涂层的厚度，其针对的导磁材料有钢、铁、银、镍等金属材料；
2）涡流测厚法。它是利用测头线圈上产生的电磁场在靠近导体的过程中形成涡流 ，而形成的涡流大小会直接以反射阻抗作用体现出来 ， 最终反映出导电基体上非导电涂层厚度的大小。该方法相比于磁性测厚法的精度要略低，适用于测量非导电涂层的厚度；
3）超声波测厚法。因为其造价高昂，并且测量精度并不高，所以超声波测厚方法目前在国内还没有被有效应用，在国外也只有个别企业在利用超声波进行测厚 ， 主要是因为这种测量方式可以测量磁性测量和涡流测量所无法测量的多层涂层的厚度；
4）电解测厚法。这种方法需要破坏涂层进行电解测量，测量工序复杂，并且测量精度不高，因此应用并不广泛；
5）放射测厚法。这种测量仪器价格非常昂贵，只有在一些特殊场合才会用到。
