EDX6000D能量色散X荧光光谱测金仪分析鉴别假金假珠宝
随着金价飞涨，假金条成为贵金属行业的难题。现代假货的外观和感觉就像真品一样，如果您没有合适的工具，识别假金条是一项挑战。英飞思科学开发了一种两步式解决方案来快速轻松地检测假金条。
第1步：
用X射线荧光(XRF)测金仪测试金条的外部。XRF测金仪 将通过直接测量金和微量元素（包括银、铜、镍、铂、钯、铱和任何其他通常与金形成合金的元素）来确定金条的纯度。我们的分析仪易于使用的软件可以显示黄金百分比、克拉或成色。如果可能存在镀金，板警报功能会通知用户。XRF荧光光谱仪的原理主要是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自*的能量在各自的固定轨道上运行， 内层电子（如K 层）在足够能量的X 射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L 层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X 射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X 射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光光谱仪(XRF测金仪)
第2步：
使用我们的密度仪仪器测试金条的整个密度，以帮助确保它始终是“真实的”。高品质的赝品可能外面有真金，但里面可能装满了更便宜的金属。密度仪可以帮您轻松鉴别内部不是纯金的假金或者假珠宝。
密度法原理是根据阿基米德原理测定样品在空气中的质量除以其体积得到被测样品的密度，再根据首饰中可能含有杂质元素的密度和黄金的密度计算出首饰中金的纯度。
密度法的优点为分析速度快，样品无损，仪器及测定成本低。单纯的密度法仅适用于组分简单的首饰; 对于组分复杂的首饰，密度法有较大的误差，需与其他方法联用，而最常见的联用方法为 X 荧光光谱法。密度法有一定的局限性，要求被测样品表面非常光滑，无飞毛边刺和裂纹狭缝。若样品内部存在空心、气泡等情形，则密度法更加不适用; 而这类问题在黄金熔炼、浇铸过程中是较为普遍的。另外，对于表面镀层样品以及掺铱、钨、铅的样品，由于金属铱、钨、
铅的密度与金非常接近或更大，这类物质在故意作假的黄金首饰特别是在金条中容易出现，它们不是均匀与基体材料混合，即使与 X 射线荧光法联用也很难识别，因此该方法黄金纯度检测有很大的误差和风险
EDX6000D测金仪的优点包括
>准确：精准测量千足金万足金和K金
>快速分析: 最快10秒出结果
>无损：测量*不会破坏样品
>无需每天重复标定，快速分析，简单易用
>一次分析所有贵重金属元素金，银，铂，钯，铑
>杂质及有害元素测量包括镍，铜，锌，铅，铱等
>很高的性价比
