菲希尔X射线荧光镀层测厚仪它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了Fischer的全基本参数法，该仪器既能测量和分析涂层系统，又能测量和分析固体和液体样品，而不需要标准件。Xd230特别适合客户进行质量控制、进货检验和生产过程监控。
FISCHERSCOPE X射线XDL 230是一款桌面测量仪器，具有友好的用户界面。手动操作X-Y工作台和电机驱动Z轴系统。高分辨率彩色摄像机具有强大的放大功能，可以准确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。测量盒底部的槽是专门为面积大、形状扁平的样品设计的，使仪器可以测量比测量盒更长、更宽的样品。例如大型印刷电路板。带有放大倍率和十字线的集成视频显微镜简化了样品放置，并允许精确调整测量点。所有的仪器操作、测量数据的计算、测量数据报告的清晰显示都可以通过WinFTM软件在计算机上完成，功能强大，界面友好。XD-L涂层厚度测量和材料分析仪是一种受保护的仪器，其型式许可符合德国“Deutsche rntgenverordnung-RV”法规。
