X荧光射线测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250是一款高性能、紧凑且通用的适用的x射线测量仪器。它非常适合无损检测涂层厚度测量和材料分析。
XAN 250特别适合于测量和分析薄涂层，即使具有非常复杂的组成或小的浓度。
应用领域：
•测量电子器件中的功能涂层，从几纳米开始和半导体行业
•消费者保护的痕量分析，例如玩具中的铅含量
•分析珠宝和手表中对精度要求*高的合金工业和金属精炼厂
•大学和行业研究
介绍：
XAN 250设计为用户友好的台式仪器。样本定位快速简便。X射线源和半导体探测器组件位于仪器的下室中，以便测量方向从样品下方开始，样品由透明支撑窗带有变焦和十字准线的集成视频显微镜简化了样品放置并且允许精确的测量点调整。
测量的整个操作和评估以及清晰的演示使用功能强大且用户友好的WinFTM®软件。
