RoHS分析仪EDX8000B能量色散XRF
从技术角度讲, 完整的RoHS的解决方案应该是XRF(X射线荧光光谱仪)、 ICP(电感耦合等离子发射光谱)再加上GC-MS(气相色谱和质谱连用)和紫外分光光度计等。 但在实际应用中, X射线光谱现场分析方法的样品制备简单, 能非破坏性地快速进行多元素分析, 可以迅速筛查多种类样品基质如液体、 固体、 泥浆、 粉末、 糊状物、 薄膜、 空气过滤物以及其他很多基质样品中的未知成分。 对于最新一代X射线荧光ROHS分析仪EDX8000B而言, 其配备了SDD检测器，进口X射线管管芯，并搭载了薄膜滤光片（有效提高Cl元素检测下限），检测塑胶类样品和轻质金属材料中的Pb, Cd, Hg, 总Br和总Cr, 检出限可达到2 μ g· g-1; 检测Fe, Ni, Cu, Zn及其合金以及焊锡中的Pb和Cr等成分, 检出限可以达到20~50 μ g· g-1, Cd的检出限可以达到10 μ g· g-1.
X射线荧光光谱ROHS分析仪EDX8000B是利用样品对X射线的吸收随样品中的成分及其多少变化而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法。它具有分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，光谱干扰少，试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点。
X射线荧光ROHS分析仪EDX8000B不仅可以分析块状，粉末样品，还可对多层镀膜的各层镀膜分别进行成分和膜厚的分析。
当试样受到X射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以X射线的形式放出，并在教外层产生新的空穴和产生新的X射线发射，这样便产生一系列的特征X射线。特征X射线是各种元素固有的，它与元素的原子系数有关。所以只要测出了特征X射线的波长λ，就可以求出产生该波长的元素。即可做定性分析。在样品组成均匀，表面光滑平整，元素间无相互激发的条件下，当用X射线（一次X射线）做激发原照射试样，使试样中元素产生特征X射线（荧光X射线）时，若元素和实验条件一样，荧光X射线强度与分析元素含量之间存在线性关系。根据谱线的强度可以进行定量分析。
ROHS光谱分析仪EDX8000B广泛应用于检测ROHS六种有害元素成分分析，通过仪器检测确认ROHS有害元素是否达标。ROHS有害元素包含：铅Pb，镉Cd，汞Hg，六价铬Cr6+，多溴二苯醚BDE，多溴联苯PBB等元素检测。同时还能进行无卤检测（氯元素成分分析）和膜厚测试，涵盖行业：电子、电器、医疗、通信、玩具等。
EDX8000B光谱仪是专用ROHS检测仪，已经成为了食品重金属和ROHS有害元素的克星。
为了满足客户日益更为严苛的测试需求，特别是对微量痕量元素测试灵敏度和稳定性的更高标准，英飞思ESI全新开发了升级版EDX8000B---RoHS分析检测光谱仪。相较于基础版本的Si-pin硅针检测器，EDX8000B ROHS分析仪装备了SDD硅漂移检测器。更高的样品X光能量数据通量，更好的光谱分辨率，使得检测性能提高了2-3倍。
ROHS检测仪EDX8000B的优势：
•更快---由于单位时间内可以获得更高样品信号通量，使得测量时间大幅减少。100秒即可达到普通版本仪器200秒的测量效果
•更准---多道分析器DPP可实现超过100,000 cps的线性计数速率而同时保证优秀的光谱分辨率，通常优于130 eV（普通Si-pin探测器为160eV），以更好地分离不同元素的光谱。同时，强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体元素间吸收增强效应，并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，把测试准确度提高到了新的水平
•更稳---使用超大面积25 mm2铍窗SDD检测器(普通Si-pin检测器6mm2),该款检测器可在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度（计数率CPS），从而得到更好的测试稳定性和长期重复性。与传统的Sipin版本台式仪器相比，EDX8000B光谱仪可以全功率运行，因此实现了更为稳定和可靠的测试表现
