高温差热分析仪的温控系统与信号检测系统
高温差热分析仪主要面向工业用户、科研与教学，广泛应用于各类材料与化学领域的新品研发，工艺优化与质检质控等。主要测量与热量有关的物理和化学的变化，如物质的熔点熔化热、结晶点结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度等。
差热分析(DTA)法是在程序控温下，测量物质与参比物之间温度差随温度或时间变化的一种技术。根据热分析协会规定，DTA曲线放热峰向上，吸热峰向下，灵敏度单位为微伏(μV)。
可见，体系在程序控温下，不断加热或冷却降温，物质将按照它固有的运动规律而发生量变或质变，从而产生吸热或放热，根据吸热或放热便可判定物质内在性质的变化。
高温差热分析仪主要由温度控制系统和差热信号测量系统组成，辅之以气氛和冷却水通道，测量结果由记录仪或计算机数据处理系统处理。
1.温度控制系统
该系统由程序温度控制单元、控温热电耦及加热炉组成。程序温度控制单元可编程序模拟复杂的温度曲线，给出毫伏信号。当控温热电耦的热电势与该毫伏值有偏差时，说明炉温偏离给定值，由偏差信号调整加热炉功率，使炉温很好地跟踪设定值，产生理想的温度曲线。
2.差热信号测量系统
该系统由差热传感器、差热放大单元等组成。
差热传感器即样品支架，由一对差接的点状热电耦和四孔氧化铝杆等装配而成，测定时将试样与参比物分别放在两只坩埚中，置于样品杆的托盘上，然后使加热炉按一定速度升温。如果试样在升温过程中没有热反应(吸热或放热)，则其与参比物之间的温差ΔT=0;如果试样产生相变或气化则吸热，产生氧化分解则放热，从而产生温差ΔT，将ΔT所对应的电势差(电位)放大并记录，便得到差热曲线。各种物质因物理特性不同，因此表现出其*的差热曲线。
