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densoku电解式测厚仪的原理及特点

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2022/12/23 14:18:15

densoku电解式测厚仪的原理及特点

电解膜厚度测量原理

镀膜厚度是通过阳极电解法溶解镀膜来测量的,这是一种应用规则测量镀层厚度的方法 (阳极电解电路见图1)在镀膜结束时,由于测量部分被恒定电流溶解,膜金属消失,当基体金属出现时,阳极电压发生变化,并且检测到此电压变化以结束测量。(见图二)

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电解膜测厚仪的特点

  • 虽然是破坏型测量,但可以通过简单的测量来测量,也可以测量多层电镀。

  • 可测量双镍、三镍各层膜厚及电位差

  • 可以分别测量铜镀锡时形成的纯锡层和合金层的厚度。

  • 可以测量 X 射线无法测量的厚多层镀层(最大 300 μm)

  • 通过使用线测试仪,可以测量细线的电镀膜厚度。

使用示例

  • 镀锡线(镀锡铜线)纯锡层厚度测量

  • 汽车外饰件用Cr/Ni/Cu三层镀层测量,镀Ni用
    双镍/三镍电位差测量

  • 与非破坏性薄膜测厚仪的测量结果进行交叉检查


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