LuphoScan测量平台是一款基于多波长干涉技术（MWLI）的干涉式扫描测量系统。LUPHO Scan是基于MWLI方法技术（多波长干涉仪）的测量设备。设计用于旋转对称光学组件（例如非球面透镜）的精密非接触式3D形状测量的目的，可以在纳米级上测量3D光学组件的真实形状。 它专为旋转对称表面的精密非接触式3D形状测量而设计， 例如非球面光学透镜。LuphoScan平台能够轻松进行非球面、球面、平面和自由曲面的测量。 该仪器的主要特性包括高速测量、特殊表面的高灵活度测量（例如：拐点的轮廓或平坦的尖点）。 因为采用多波长干涉技术（MWLI）传感器技术， 因此能够扫描各种表面类型如透明材料、金属部件和研磨表面。能够测量120/260/420/600毫米直径光学组件的高速非接触式3D光学表面形状测量仪/轮廓仪.
LuphoScan测量系统用于测量可旋转的对称表面的3D拓扑结构， 例如凹面球面透镜和凸面球面透镜。 测量工作台的设计能够确保测量大多数的透镜， 而不受任何球形偏离、罕见顶端形状（平头）、倾斜或者发射点图的限制。除了标准的测量应用外， 还可以使用LuphoScan测量平台的特殊扩展工具LuphoSwap不同扩展功能， 来完成多种光学要素特征的测量。该工具能够辅助测量透镜厚度， 以及楔形与偏心误差。 除此之外， 额外的附加软件类型能够直接测量间断的透镜，如分段表面包括矩形部件、环形透镜、有衍射阶梯的表面和锥透镜。
