干膜测厚仪日常故障因素分析

干膜测厚仪日常故障因素分析

一、干膜测厚仪测量结果误差大

测头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使测头与被测件表面保持垂直。并且测头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。测量时不要拖动测头，因为这样不仅对测头会造成磨损，也不会得到准确的测量结果。

另外，基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座表面有锈蚀、测量现场周围有电磁场干扰等因素，都有可能引起干膜测厚仪测量结果的异常。

二、干膜测厚仪示值显示不稳定

导致干膜测厚仪示值显示不稳定的原因，主要是来自工件本身的材料和结构的特殊性，比如工件本身是否为磁性材料，如果是磁性材料我们就要选择磁性干膜测厚仪，如果工件为非磁性，我们就得选择涡流干膜测厚仪。

再者，被测件的表面粗糙度和附着物也是引起仪器示值显示不稳定的重要因素，干膜测厚仪的测头对那些妨碍与覆盖层表面紧密接触的附着物质极其敏感。必须保证探头与覆盖层表面直接接触。

因此，排除这种故障的要点就是：测量前清除被测件接触面的灰尘、细屑、油脂及腐蚀产物等附着物，但不要除去任何覆盖层物质。再有就是在进行系统调零时，所使用的基体表面必须是清洁、光滑的。

如感觉测量结果偏差比较大时，请先用干膜测厚仪配备的标准片做一轮测试，如偏离允许误差较远则有可能是仪器本身出了问题，需返厂检修。在系统校准时没有选择合适的基体。基体最小平面为7mm，最小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。

三、干膜测厚仪屏幕不显示数据

原因就是检查电池是否电量充足，确定电池电量充足后如发现测量还是不显示数值，可以考虑是否有测头及连线有松动、断开或接触不良现象、电池漏液后腐蚀仪器内电子零部件等因素影响。

四、干膜测厚仪自身发生故障

长期处于工作状态的干膜测厚仪，极有可能发生震动、跌落、等意外，或所处的工作环境有磁场干扰，致使仪器内部电子零件受干扰至损，又是由于经多人次、多地点使用，导致仪器测量数据不可靠等现象，所以建议尽量保证专人使用和保管仪器，发生故障及时返厂维修，不得擅自拆机检测。

五、人为因素

干膜测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。使用者在测量过程中，如果对仪器不熟悉就可能使测头偏离被测体，使磁通量发生变化造成错误测量。使用者初次使用仪器时，要先认真研读说明书，掌握好测量方法。