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赛多利斯 Entris II 基础型实验室天平技术参数

郑州欧诺仪器有限公司 >> 进入商铺

2023/8/12 21:25:08

赛多利斯 Entris II 基础型实验室天平技术参数:每一款赛多利斯天平都具有高质量。无论称量什么样品,Entris® II 天平始终是您正确的选择。颇具竞争力的性价比,isoCAL功能、LED触摸屏技术和12个内置应用程序,使该天平从同类产品中脱颖而出。凭借150年德国工匠精神的传承和专.业技术累积,我们拥有40种不同型号的产品供您选择,让您轻松找到适合您特定称量需求的Entris® II 天平

赛多利斯 Entris II 基础型实验室天平技术参数采用德国设计,符合质量标准

•    精.准称量,始终如一 – 赛多利斯超级单体传感器,稳定可靠

•    同类产品的快速稳定时间 – 搭载先进称量传感器

•    良好的重复性 – 配置矩形称重盘

•    过载保护 – 牢固耐用的设计

•    可靠性保证 – 配备自检“@start”功能


易于清洗,操作效率高,经久耐用

•    耐化学腐蚀性 – 零件由耐磨聚对苯二甲酸丁二酯(PBT)、不锈钢和玻璃制成

•    防止交叉污染 – 采用一擦即净的设计和易于拆卸的零件

 

实用的防风罩

•    更大限度地减少静电引起的称量误差 — 采用镀膜玻璃

技术参数:





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