OD7000系列西克SICK高精度位移传感器采用光谱共焦技术，以非常高的精度测量非常小的距离。
白光通过光纤和光纤耦合器传输到探头，探头中的透镜将白光分成不同的波长并聚焦。每个波长都有自己的焦点的目标表面被大程度地垂直反射的回传感器头和光纤接收，并被转移到控制器中的光谱仪进行分析聚焦目标表面的波长比其他波长反射更强烈。
光谱显示出明显的峰值这个光谱峰对应一个距离，可以用来有效确定到目标表面的距离。
由控制器和探头组成，结构紧凑，易于集成。控制器可选配编码器输入，都具有以太网接口，节省成本。
OD7000系列西克SICK高精度位移传感器主要面对的是终端用户、集成商和E&S行业的OEM商，在面对在传统激光位移传感器无法有效测量时，系列西克SICK高精度位移传感器也可以提供解决方案。
OD7000系列西克SICK高精度位移传感器产品特点：配备RS-422和以太网接口
三种测量范围:600μm、4mm、10mm分辨率为25nm、180nm和400nm
线性度为198nm、1.4μm和4μm
紧凑的控制器尺寸
简单易于使用的配置软件
技术参数：
应用范围：玻璃测厚（单头）
玻璃平面度测量(多传感器头)
涂料、胶水、浆料或密封剂的厚度
测量太阳能硅片锯痕
检测透明薄膜厚度测量(单传感器头)
不透明薄膜厚度测量(两个传感器头)
应用场景：玻璃行业—单头测厚
电子和光伏行业—太阳能硅片测量平整度以及分选
机械制造和消费品行业—薄膜厚度检测
