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日本日置元器件测量仪器型号选择

上海胜雁电子有限公司

2011/11/6 21:21:54

日本日置元器件测量仪器型号选择：

 

电感、电容、阻抗测试器 
 
阻抗分析仪IM3570
等效电路分析软件IM9000
LCR测试仪 3535
LCR测试仪 3532-50
LCR测试仪 3522-50
 
 
 
  • 测量|Z|、L、C、R
  • 测量频率4Hz~5MHz
  • 测量时间：0.5ms
  • 同时进行扫频测量和LCR测量
 
 
  • 内置于IM3570的可选软件
  • 5个等效电路模型
  • 可以显示由分析结果得到的理想频率特征图
  • 柯尔图，导纳圆显示
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率100kHz～120MHz
  • 高速测量: 6ms
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率42Hz～5MHz
  • 高速测量: 5ms
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率DC, 1mHz～100kHz
  • 高速测量: 5ms
LCR测试仪 3511-50
 
 
 
 
 
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率120Hz或1kHz
  • 高速测量: 5ms
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
生产线的产品
 
C测试仪 3506
C测试仪 3505
C测试仪 3504-60
C测试仪 3504-50
C测试仪 3504-40
 
 
 
  • C、 （tan δ）, Q项目测试
  • 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
  • 测试源频率 :1kHz, 1MHz
  • 高速测量: 2ms
 
 
  • C、 （tan δ）, Q项目测试
  • 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
  • 测试源频率: 1kHz, 100kHz, 1MHz,
  • 高速测量: 2ms
 
 
  • C、D 2项目测试
  • 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
  • 静电容量:zui多可分成14类，能简单地根据测量值进行分类
  • 控制检测功能
  • 测试源频率: 120Hz, 1kHz
  • 高速测量: 2ms
  • RS-232C, GP-IB
 
 
  • C、D 2项目测试
  • 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
  • 静电容量:zui多可分成14类，能简单地根据测量值进行分类
  • 测试源频率: 120Hz, 1kHz
  • 高速测量: 2ms
  • RS-232C, GP-IB
 
 
  • C、D 2项目测试
  • 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
  • 测试源频率: 120Hz, 1kHz
  • 高速测量: 2ms
  • RS-232C
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
低电阻测量 
（3560建议用于接触电阻测量）
 
电阻计RM3543, RM3543-01
电阻计RM3542, RM3542-01
电阻计 3541
微电阻计 3540
交流微电阻计 3560
 
 
 
  • 用于自动化产线的理想的高速电阻计
  • 测量源:DC
  • zui快测量时间:0.9ms
  • zui小积分时间:0.1ms
  • zui高分辨率:0.1μΩ
 
 
  • 用于自动化产线的理想的高速电阻计
  • 测量源:DC
  • zui快测量时间:0.9ms
  • zui小积分时间:0.1ms
  • zui高分辨率:0.1μΩ
 
 
  • 用于线圈或产线的电阻至高电阻测量
  • 测量源:DC
  • zui短响应时间:几毫秒
  • 采样率: 0.6ms ±0.3ms
  • zui高分辨率:0.1μΩ
 
 
  • 用于线圈或产线的电阻至高电阻测量
  • 测量源:DC
  • zui短响应时间:100ms
  • 采样率: 16 次/秒
  • zui高分辨率:10μΩ
 
 
  • 用于接触电阻或电池内阻测量
  • 测量源:AC 1kHz
  • zui短响应时间:84ms
  • 采样率: 60次/秒
  • 高分辨率:1μΩ
 

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