正置金相显微镜在观察时成像为正像，这对使用者的观察与辨别带来了大的方便，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由于符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。大于3微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。另外外置摄相系统可以方便的连接视屏和计算机进行实时和静动态的图像观察、保存和编辑、打印结合各种软件能进行更专业的金相、测量、互动教学领域的需要。
正置式和倒置式的区别简单的说就是，正置的样品放在下面，倒置的样品放在上面。正置的物镜向下，倒置的物镜向上。
倒置金相显微镜 ，由于试样观察面向下与工作台表面重合，观察物镜位于工作台的下面，向上观察，这种观察形式不受试样高度的限制，在制备试样时只要一个观察面平整，因此工厂实验室、科研机构院校教学普遍选用。倒置金相显微镜底座支承面积较大，重心较低，安全平稳可靠，目镜与支承面呈45℃倾斜，观察舒适。
正置金相显微镜具有和倒置金相显微镜同样的基本功能，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，因为符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。正置金相显微镜在观察时成像为正像，这对使用者的观察与辨别带来了大的方便。除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，大于3微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。
