福禄克Ti32热像仪温度测量

地球上的所有物体都在辐射红外能量。所辐射能量的数量取决于两个主
要因素：物体的表面温度和物体表面的发射率。热像仪能探测来自物体
的红外能量并利用该信息估算物体的温度。多数被测物体，例如涂漆金
属、木材、水、皮肤和织物，都能非常有效地辐射能量，所以容易获得
很准确的测量值。
对于能有效辐射能量的表面（高发射率），发射率系数估计为 95 %（或
0.95）。此估计值适用于多数用途。但是这种简化对光亮的表面或未涂
漆的金属就不适合。这些材料不能有效辐射能量，所以被归类为低发射
率材料。为了准确地测量低发射率材料的温度，经常需要进行发射率校
正。zui简单的校正方法是将热像仪设为正确的发射率值，使热像仪能够
自动计算正确的表面温度。如果热像仪使用固定发射率值（是指发射率
设为一个值且用户无法更改），那么热像仪的测量值必须乘上一个在查
表中找到的值，以获得更准确的实际温度估计值。
无论热像仪是否能够在计算温度测量值时调整发射率，对于发射率为
0.60 或更低值的表面，通常很难真正准确地测得其温度而不产生显著误
差。如果需要准确地测量温度，通常的办法是在可行的情况下更改
或提高表面的发射率。
Ti32 和 TiR32 都能够通过直接输入一个值或使用内建值表格设置发射率。
同时，也可提供更详细的发射率信息。建议对该主题作进一步研究，以便
在使用热像仪时能获得zui准确的温度测量值。