原位扫描电镜（SEM）的应用原理主要是利用电子成像来观察样品的表面形貌。当一束极细的高能电子束在试样上扫描时，与试样相互作用产生各种物理信息，如二次电子、背散射电子、特征X射线和连续谱X射线、透射电子等。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。SEM的分辨率高于光学显微镜的分辨率，因为电子的波长远小于光的波长。此外，SEM还可以进行样品表面的元素分析，如C、S、N等元素的分布情况。
在具体应用中，原位扫描电镜可以用于材料科学、生物学、医学等领域的研究和质量控制。例如，在材料科学领域，SEM可以观察金属、陶瓷、高分子等材料的表面形貌和微观结构；在生物学领域，SEM可以观察细胞和组织的表面形貌和结构；在医学领域，SEM可以用于疾病诊断和药物研发等。
原位扫描电镜的应用原理是通过电子束与样品相互作用产生各种物理信息，对这些信息进行接收、放大和显示成像，从而获得试样表面形貌和结构的信息。
