公司简介：
Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动(AFPP)用于进行四点探针测量。
AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。
可以使用AFPP独立提供的电源适配器,或者可以动力和由Jandel RM3000使用单一铅连接这两个工具之间。
英国Jandel可调节高度自动探头产品类别：
l jandel四探针探头
l jandel四探针
l jandel探头
l jandel探针台
主要型号：
设备尺寸
1.可调节高度测试台：W×L×H（mm）320×370×8
2.AFPP主机：W×L×H（mm）64×215×67
3.可调节高度轴杆:d（mm）19；L（mm）200（可定制额高度到1000mm）
A-D型号和E-H型号
产品介绍：
l 可测晶片直径：直径d≤300mm
l 可测晶片厚度：高度h≤250mm
l 自动停机：具有接触到样品的传感器（通过传感器检测接触到样品）
l 手动控制：远程控制
l Jandel-RM300能够提供电源和样品接触
优势特点：
系统配置
组成部件（产品配置）：
1.测试台——1个
2. AFPP主机——1个
3.可调节高度的轴杆——1根
4.四探针探头——1个
5.电缆线——一根
英国Jandel可调节高度自动探头主要应用：
用于半导体行业以及大学，实验室工作和研究应用的电阻率测量设备。
